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ESPEC绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统
*可连续通电扫描方式，配以符合国际标准的测试仪表，实现高精度测量
*漏电检测功能正确捕捉离子迁移现象的细微变化
*专用统计处理软件E-Graph可实时编辑、预览测量数据
PCB板绝缘电阻劣化测试系统|ESPEC绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统简介：
面对电子产品越来越小型轻量及高密度封装，因结露吸湿等因素造成的绝缘不良现象暨离子迁移现象日益突出，绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统配之以高温高湿试验箱联动，可高精度连续监测，高效简便评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。
适用标准：JPCA-ET04、IPC-TM-650_2.6.3F 、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A 、IPC-TM-650_2.6.3.6。
高精准测量
自主开发连续通电扫描继电器方式，配备国际标准的测量仪表，与环境试验箱联动，操作更简便更安全。
应力电压范围广泛
标配100V应力电压（应力电压/测量电压），更有300V、500V高电压规格备选。
连续通电扫描方式
ESPEC扫描动作技术，切换扫描时不发生无电压状态，测量电压与偏置电压均使用同一电压源控制，可准确控制电压。
漏电流检测功能
高速准确捕捉离子迁移现象发生的细微变化，离子迁移实时监测。
专用统计软件
「E-Graph」可实时编辑预览监测实时获得的数据。
专用连接样件夹具
选配可使连接样品及线缆更方便，试验效率更高。
PCB板绝缘电阻劣化测试系统|ESPEC绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统规格：
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型号 |
标准100V规格 |
300V规格（选购件） |
500V规格（选购件） |
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通道构成 |
标准25ch（最多至150ch） |
标准25ch（最多至150ch） |
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控制方式 |
5ch |
25ch |
5ch |
25ch |
5ch |
25ch |
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系统 |
windows 7 |
windows 7 |
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测量性能 |
偏置电压 |
偏置电压 |
无加载、1.0～100V DC |
无加载、1.0～300V DC |
无加载、1.0～500V DC |
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最小分辨率 |
0.1V |
0.1V（设定为1～200V时） |
0.1V（设定为1～200V时） |
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|
加载电压精度 |
±（设定值的0.7%+300mV） |
±（设定值的0.7%+300mV） |
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电阻判定及测量时间 |
直流电流测量范围※1 |
0.1fA～20mA（最高分辨率：0.1fA） |
0.1fA～20mA（最高分辨率：0.1fA）※2 |
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电阻测量范围（Ω） |
2.0×105～1.0×1013（加载100V时） |
2.0×105～1.0×1013（加载300V时） |
2.0×105～1.0×1013（加载500V时） |
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测量精度※1 |
±1.015%（20pA量程、全量程） |
±1.015%（20pA量程、全量程） |
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|
测量电压 |
1.0～100V DC（0.1V/步） |
1.0～300V DC |
1.0～500V DC |
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测量时间（1次）※3 |
15秒+充电时间 |
80秒+充电时间 |
15秒+充电时间 |
80秒+充电时间 |
15秒+充电时间 |
80秒+充电时间 |
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漏电流测出功能 |
不间断，100μsec以内测出 |
不间断，100μsec以内测出 |
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测量电缆 |
种类 |
+极 |
单芯电缆 |
耐热单芯电缆 |
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-极 |
同轴电缆（防护结构） |
同轴电缆（防护结构） |
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包覆材质 |
特氟隆（耐热+150℃） |
特氟隆（耐热+150℃） |
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长度 |
扫描单元至中转连接器：2.5m |
扫描单元至中转连接器：2.5m |
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中转连接器 |
可连接25通道 |
可连接25通道 |
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测量仪表 |
型号：6514 |
型号：6514 |
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外尺寸 |
W530×H1750×D940mm |
W530×H1750×D940mm |
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电源 |
100V AC,1φ10.A |
100V AC,1φ10.A |
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※1 显示的是测量仪表的测量精度及直流电流测量范围。系统的测量精度请参考精度分布图。 ※2 高电压偏置用中转连接器内，在每个通道的正电压加载侧串连了1KΩ的电阻，电流流过试样损失会造成的电压稍许下降。 此微小电压下降没有包含在加载电压精度中。 ※3 偏置电压与测量电压相同时，则充电时间为零。 |
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